KS C IEC 60749-16(2021 Confirm) | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-16(2021 Confirm)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16:Particle impact noise detection(PIND)

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-16(2021 Confirm)
Международный стандарт	IEC 60749-16:2003(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
Дата опубликования	2006.11.30
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \