|
 |
Библиография | Обозначение | KS C IEC 60749-1(2021 Confirm) | | Международный стандарт | IEC 60749-1:2002(IDT) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1:General | | Дата опубликования | 2006.11.30 | | Код МКС | 31.080.01 | |
|
|
Стандарт KS C IEC 60749-1(2021 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
|