| Обозначение | IEC 60749-10(2022) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и подсборка |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-10(2002), IEC 60749-10(2002)/Cor.1(2003) |
| Дата опубликования | 27.04.2022 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 24 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |
 |