Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7098480.aspx

IEC 62951-9(2022)

Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R)

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62951-9(2022)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R)
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
МКС31.080.99
Вид стандартаST
Дата опубликования14.12.2022
Язык оригиналаанглийский
Количество страниц оригинала18
ТК – разработчик стандарта TC 47
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыE

Стандарт IEC 62951-9(2022) входит в рубрики классификатора: