Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7421717.aspx

KS D 0261(2022 Confirm)

Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS D 0261(2022 Confirm)
Заглавие на английском языкеVisual inspection for silicon wafers with specular surfaces
Дата опубликования2012.05.17
Код МКС77.120.99

Стандарт KS D 0261(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора: