Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7424855.aspx

KS C 2150(2023 Confirm)

Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHzв€ј10 GHz)

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS C 2150(2023 Confirm)
Заглавие на английском языкеMeasuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHzв€ј10 GHz)
Дата опубликования2008.11.28
Код МКС31.140

Стандарт KS C 2150(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора: