KS C 2150(2023 Confirm)
Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHzв€ј10 GHz)
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C 2150(2023 Confirm)
Заглавие на английском языке
Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHzв€ј10 GHz)
Дата опубликования
2008.11.28
Код МКС
31.140
Стандарт KS C 2150(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Пьезоэлектрические и диэлектрические приборы \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7424855.aspx