Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7425509.aspx

KS D 0258(2022 Confirm)

Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS D 0258(2022 Confirm)
Заглавие на английском языкеTest methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
Дата опубликования2012.05.17
Код МКС77.120.99

Стандарт KS D 0258(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора: