Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7426992.aspx

KS D 0257(2022 Confirm)

Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS D 0257(2022 Confirm)
Заглавие на английском языкеMeasuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
Дата опубликования2002.05.29
Код МКС29.045

Стандарт KS D 0257(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора: