Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7474464.aspx

KS L 1619(2023 Confirm)

Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS L 1619(2023 Confirm)
Заглавие на английском языкеTesting methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array
Дата опубликования2013.10.26
Код МКС29.045

Стандарт KS L 1619(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора: