Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7474964.aspx

KS L 1620(2023 Confirm)

Test methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with Van der Pauw method

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS L 1620(2023 Confirm)
Заглавие на английском языкеTest methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with Van der Pauw method
Дата опубликования2013.10.26
Код МКС29.045

Стандарт KS L 1620(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора: