KS L 1620(2023 Confirm)
Test methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with Van der Pauw method
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS L 1620(2023 Confirm)
Заглавие на английском языке
Test methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with Van der Pauw method
Дата опубликования
2013.10.26
Код МКС
29.045
Стандарт KS L 1620(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА \ Полупроводниковые материалы \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7474964.aspx