GB/T 4937.19-2018 | | | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 4937.19-2018 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength | | Дата опубликования | 2018-09-17 | | Дата вступления в силу | 2019-01-01 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-19:2010 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L40 | |
|
|
Стандарт GB/T 4937.19-2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
|