| Обозначение | GB/T 11685-2003 |
| Заглавие на английском языке | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers |
| Дата опубликования | 2003-07-07 |
| Дата вступления в силу | 2004-01-01 |
| Код МКС | 27.120.01 |
| Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988 |
| Разработан на основе | IEC 60759:1983 |
| Степень гармонизации | NEQ |
| Количество страниц оригинала | 32 |
| Статус | Published |
| Тип стандарта | voluntary national standard |
| Язык оригинала | Chinese |
| Доступные языки | |
| Имя файла | |
| CCS Code | F80 |
 |