GB/T 4937.23-2023 | | | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 4937.23-2023 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life | | Дата опубликования | 2023-05-23 | | Дата вступления в силу | 2023-12-01 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-23:2011 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L40 | |
|
|
Стандарт GB/T 4937.23-2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
|