GB/T 19403.1-2003 | | | Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits) |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 19403.1-2003 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits) | | Дата опубликования | 2003-11-24 | | Дата вступления в силу | 2004-08-01 | | Код МКС | 31.200 | | Разработан на основе | IEC 60748-11-1:1992 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 28 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L56 | |
|
|
Стандарт GB/T 19403.1-2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
|