GB/T 42848-2023 | | | Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 42848-2023 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer | | Дата опубликования | 2023-08-06 | | Дата вступления в силу | 2023-12-01 | | Код МКС | 31.200 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 36 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L56 | |
|
|
Стандарт GB/T 42848-2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
|