GB/T 30866-2014
Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 30866-2014
Заглавие на английском языке
Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
Дата опубликования
2014-07-24
Дата вступления в силу
2015-02-01
Код МКС
29.045
Степень гармонизации
Количество страниц оригинала
8
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
CCS Code
H83
Стандарт GB/T 30866-2014 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА \ Полупроводниковые материалы \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7761548.aspx