GB/T 15877-2013 | | | Semiconductor integrated circuits—Specification of DIP leadframes produced by etching |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 15877-2013 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor integrated circuits—Specification of DIP leadframes produced by etching | | Дата опубликования | 2013-12-31 | | Дата вступления в силу | 2014-08-15 | | Код МКС | 31.200 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 15877-1995 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L56 | |
|
|
Стандарт GB/T 15877-2013 входит в рубрики классификатора:
| | |
|