GB/T 36474-2018 | | | Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM) |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 36474-2018 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM) | | Дата опубликования | 2018-06-07 | | Дата вступления в силу | 2019-01-01 | | Код МКС | 31.200 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L56 | |
|
|
Стандарт GB/T 36474-2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
|