Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7801951.aspx

GB/T 37051-2018

Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 37051-2018
Заглавие на английском языкеTest method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
Дата опубликования2018-12-28
Дата вступления в силу2019-04-01
Код МКС29.045
Степень гармонизации
Количество страниц оригинала12
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQH80

Стандарт GB/T 37051-2018 входит в рубрики классификатора: