| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Микроскопы. Обозначение микрообъективов. Часть 1. Плоскостность поля/План
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Обозначение микрообъективов. Часть 2. Хроматическая коррекция
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Микроскопы. Обозначение микрообъективов. Часть 2. Хроматическая коррекция
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Микроскопы. Обозначение микрообъективов. Часть 3. Спектральный коэффициент пропускания
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Микроскопы. Обозначение микрообъективов. Часть 4. Поляризационные характеристики
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Микроскопы. Минимальные требования к бинокулярным тубусам
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Микроскопы. Определение и измерение характеристик освещенности. Часть 1. Яркость изображения и однородность в светлопольной микроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Микроскопы. Определение и измерение характеристик освещения. Часть 2. Характеристики освещения, относящиеся к цвету в светлопольной микроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Микроскопы. Определение и измерение характеристик освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с некогерентными источниками света
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Метод определения однородности оптических материалов для ИК области спектра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Метод определения свили (дефект) в оптических материалах для ИК области спектра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Метод определения пузырей и включений в оптических материалах для ИК области спектра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Диапазоны
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Требования к окружающим условиям. Требования к испытаниям телескопических систем
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биовизуализации
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Телескопические системы. Технические условия на приборы ночного видения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Метод определения показателя преломления оптических стекол. Часть 1. Метод минимального отклонения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Метод определения показателя преломления оптических стекол. Часть 2. Метод с использованием рефрактометра с V-образной призмой
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
| Страницы: ... / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 |