| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климаических испытаний. Часть 21. Паяимость
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климаических испытаний. Часть 21. Паяимость
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание(HAST) без смещения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 31. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внутреннего воспламенения)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавы
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 |