|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749-25:2004 05 01 | на печать | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры |
|
| | Библиография Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-25:2004 05 01 | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.05.2004 | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60749-25:2004 05 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|