| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-25:2004 05 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.05.2004 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |