Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles -- Part 4: Evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors ((IEC 62969-4:2018) EN IEC 62969-4:2018) (english version)
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles -- Part 4: Evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors ((IEC 62969-4:2018) EN IEC 62969-4:2018) (german version)
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 2. Метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 3. Тонкопленочные стандартные образцы для испытаний на растяжение
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 4. Общие технические условия на MEMS
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 4. Общие технические условия на MEMS
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMS
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMS
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Микро-электромеханические устройства. Часть 7. Фильтр и дуплексер MEMS BAW
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Микро-электромеханические устройства. Часть 7. Фильтр и дуплексер MEMS BAW
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электромеханические приборы. Часть 9. Измерение прочности межпластинчатого соединения для MEMS
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электромеханические приборы. Часть 9. Измерение прочности межпластинчатого соединения для MEMS
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
Страницы: 1 / 2 / 3 |