 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62047-8:2012 02 01 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62047-8:2012 02 01 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
(IEC 62047-8:2011) (english version) | | Код МКС | 31.080.99 | | Дата опубликования | 01.02.2012 | | Язык оригинала | английский | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62047-8:2012 02 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|