| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Трубки электронно-лучевые передающие телевизионные и фотоумножители. Типовые технологические процессы нанесения покрытий на выводы и наружные поверхности приборов в тропическом исполнении
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Приборы СВЧ. Нанесение электроизоляционных покрытий на подогреватели. Типовой технологический процесс
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Изделия электронной техники. Технологический процесс лазерной сварки
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Соединители низкочастотные низковольтные прямоугольные. Технологические требования к конструкции
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные. Руководство по применению
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Приборы электровакуумные. Методы определения количества активных присадок в материалах кернов катодов
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения предела прочности
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные СВЧ. Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения неоднородности локальной диэлектрической проницаемости
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Платы многослойные керамические. Технические требования и методы конструирования
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Оборудование для производства изделий электронной техники. Системы промышленной вентиляции и кондиционирования воздуха. Правила эксплуатации
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Оснастка технологическая. Общие технические условия
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы анализа электродных сплавов. Общие технические требования
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Сплавы электродные. Требования к пробам, поступающим на анализ
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Структуры фосфида-арсенида галлия. Определение длины волны фотолюминесценции
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Измерение толщины пленок поликристаллического кремния на окисленной кремниевой подложке
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Устройства организации комплексов оптоэлектронных локальных сетей. Система параметров
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные серий 556 (556РТ6, 556РТ7), М556 (М556РТ6, М556РТ7). Руководство по применению
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Излучатели гелий-неоновых лазеров с холодным катодом. Метод ускоренной оценки долговечности
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Приборы электронной и ионной спектроскопии. Пушки ионные. Методы измерения основных параметров
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
| Страницы: ... / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 ... / 30 |