| Обозначение |
Заглавие на русском языке |
Статус |
Язык документа |
Цены с НДС (20%)
в рублях
|
|
IEC 62604-1(2022)
|
Дуплексеры на поверхностных акустических волнах (SAW) и объемных акустических волнах (BAW) оцененного качества. Часть 1. Общие технические условия
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40890,00
|
|
|
IEC 62604-2(2022)
|
Дуплексеры на поверхностных акустических волнах (SAW) и объемных акустических волнах (BAW) оцененного качества. Часть 2. Руководящие указания по применению
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
IEC 62629-62-11(2022)
|
3D-Дисплеи. Часть 62-11. Методы измерения для типа виртуального изображения. Оптические свойства
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
46980,00
|
|
|
IEC 62715-2(2022)
|
Гибкие дисплейные устройства. Часть 2. Основные параметры и характеристики
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6960,00
|
|
|
IEC 62906-5-4(2018)/Cor.1(2022)
|
Дисплеи лазерные. Часть 5-4. Оптические методы измерения цветового спекла. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
IEC 62906-5-7(2022)
|
Дисплеи лазерные. Часть 5-7. Методы измерения качества изображения, на которое влияет спекл, для сканирующих лазерных дисплеев
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40890,00
|
|
|
IEC 62908-12-10(2023)
|
Дисплеи сенсорные и интерактивные. Часть 12-10. Методы измерений сенсорных дисплеев. Сенсорные и электрические характеристики
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
46980,00
|
|
|
IEC 62951-8(2023)
|
Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 8. Метод определения растяжимости, гибкости и стабильности гибкой резистивной памяти
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
IEC 62951-9(2022)
|
Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20010,00
|
|
|
IEC 62977-3-7(2022)
|
Дисплеи электронные. Часть 3-7. Оценка оптических характеристик. Характеристики тона
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40890,00
|
|
|
IEC 63068-4(2022)
|
Приборы полупроводниковые. Критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных полупроводниковых пластинах из карбида кремния для устройств питания. Часть 4. Процедура идентификации и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптического контроля и фотолюминесценции
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26100,00
|
|
|
IEC 63145-1-2(2022)
|
Очковые дисплеи. Часть 1-2. Общие положения. Терминология
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20010,00
|
|
|
IEC 63145-21-20(2022)
|
Очки-дисплей. Часть 21-20. Специальные методы измерений качества изображения очков виртуальной реальности. Эффект экранной двери
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20010,00
|
|
|
IEC 63171-4(2022)
|
Соединители для электрического и электронного оборудования. Часть 4. Частные технические условия на экранированные или неэкранированные, переносные и стационарные соединители с количеством ходов до 8 для сбалансированной однопарной передачи данных с допустимой токовой нагрузкой. Информация о механическом сопряжении, назначение контактов и дополнительные требования для типа 4
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33060,00
|
|
|
IEC 63171-5(2022)
|
Соединители для электрического и электронного оборудования. Часть 5. Частные технические условия на 2-х ходовые, M8 и M12, экранированные или неэкранированные, переносные и стационарные круглые соединители. Информация о механическом сопряжении, назначение контактов и дополнительные требования для типа 5
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40890,00
|
|
|
IEC 63203-402-1(2022)
|
Носимая электроника и технологии. Часть 402-1. Измерение рабочих характеристик носимых устройств для фитнеса. Методы испытаний датчиков движения перчаточного типа для измерения движений пальцев
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
IEC 63207(2022)
|
Методы измерения характеристик синего света и связанных с ними оптических характеристик для терминалов визуального отображения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
IEC 63275-1(2022)
|
Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность карбидокремниевых дискретных полевых МОП-транзисторов. Часть 1. Метод определения температурной нестабильности смещения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
IEC 63275-2(2022)
|
Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность карбидокремниевых дискретных полевых МОП-транзисторов. Часть 2. Метод определения биполярной деградации из-за работы паразитного диода
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6960,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 |