 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 15632:2002 |  на печать | | Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 15632:2002 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors | | Дата отмены | 31.07.2012 00:00:00 | | Наличие терминов РОСТЕРМ | 1 | | Код КС (ОКС, МКС) | 37.020; 71.040.99 | | Обозначение заменяющего | ISO 15632:2012 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 05.12.2002 | | Количество страниц оригинала | 12 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 15632:2002 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|