ISO 15632:2002
Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
ISO 15632:2002
Статус
Заменен
Вид стандарта
ST
Заглавие на русском языке
Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами
Заглавие на английском языке
Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
Дата отмены
31.07.2012 00:00:00
Наличие терминов РОСТЕРМ
1
Код КС (ОКС, МКС)
37.020; 71.040.99
Обозначение заменяющего
ISO 15632:2012
ТК – разработчик стандарта
TC 202
Язык оригинала
английский
Номер издания
1
Дата опубликования
05.12.2002
Количество страниц оригинала
12
Код цены
Примечание
Стандарт ISO 15632:2002 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ТЕХНОЛОГИЯ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ \ Оптическое оборудование *Включая микроскопы, телескопы, бинокли, оптические материалы, оптические компоненты и оптические системы *Офтальмологическое оборудование см. 11.040.70 *Оптические измерительные приборы см. 17.180.30 *Линзы для фотографической аппаратуры см. 37.040.10 \
ОКС \ ХИМИЧЕСКАЯ ПРОМЫШЛЕННОСТЬ \ Аналитическая химия * Эта группа включает стандарты общего назначения \ Аналитическая химия, прочие аспекты \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/3624488.aspx