 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17470:2004 |  на печать | | Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17470:2004 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry | | Дата отмены | 06.01.2014 01:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.99 | | Обозначение заменяющего | ISO 17470:2014 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 2 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 20.09.2004 | | Количество страниц оригинала | 18 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 17470:2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|