| Обозначение | ISO 17470:2004 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry |
| Дата отмены | 06.01.2014 01:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.99 |
| Обозначение заменяющего | ISO 17470:2014 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 2 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 20.09.2004 |
| Количество страниц оригинала | 18 |
| Код цены | |
| Примечание | |
 |