 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 6342:2003 |  на печать | | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 6342:2003 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания | | Заглавие на английском языке | Micrographics -- Aperture cards – Method of measuring thickness of buildup area | | Код КС (ОКС, МКС) | 37.080 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 6342:1993 | | ТК – разработчик стандарта | TC 171/SC 2 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 24.07.2003 | | Количество страниц оригинала | 8 | | Код цены | A | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 6342:2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
8050,00
|
|
|
|