| Обозначение | ISO 6342:2003 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания |
| Заглавие на английском языке | Micrographics -- Aperture cards – Method of measuring thickness of buildup area |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.080 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 6342:1993 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 171/SC 2 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 2 |
| Дата опубликования | 24.07.2003 |
| Количество страниц оригинала | 8 |
| Код цены | A |
| Примечание | |
 |