|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62374(2007) | на печать | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок |
|
| | Библиография Обозначение | IEC 62374(2007) | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films | МКС | 31.080 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 12.04.2007 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 46 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC 62374(2007) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
26100,00
|
|
|