 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-23(2004) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 60749-23(2004) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62189(2000) | Обозначение заменяющего в части | IEC 60749-23(2004)/Amd.1(2011) | Дата опубликования | 26.02.2004 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 20 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | C |  |
|  | Стандарт IEC 60749-23(2004) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
7488,00
|
|
|