| Обозначение | IEC 60749-23(2004) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62189(2000) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60749-23(2004)/Amd.1(2011) |
| Дата опубликования | 26.02.2004 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |