 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/PAS 62189(2000) |  на печать | | Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибора |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/PAS 62189(2000) | | Заглавие на русском языке | Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибора | | Заглавие на английском языке | Bias Life | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяющего | IEC 60749-23(2004) | | Дата опубликования | 01.11.2000 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 8 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC/PAS 62189(2000) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|