Обозначение | IEC/PAS 62189(2000) |
Заглавие на русском языке | Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибора |
Заглавие на английском языке | Bias Life |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяющего | IEC 60749-23(2004) |
Дата опубликования | 01.11.2000 |
Язык оригинала | английский |
Количество страниц оригинала | 8 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Заменен |
Код цены | |
|