|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография Обозначение | DIN 41792 Beiblatt 3-1968 | Заглавие на английском языке | Low-power semiconductor devices measuring methods; thermal resistance | Дата опубликования | 01.07.1968 | МКС | 31.040.30 | Вид стандарта | ST*N | Обозначение заменяющего | DIN IEC 60747-7(1997.12) | Язык оригинала | немецкий | Количество страниц оригинала | 2 | Перекрестные ссылки | | Код цены | Preisgruppe 4 | |
| | Стандарт DIN 41792 Beiblatt 3-1968 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|