Библиография | Обозначение | DIN 41792 Beiblatt 3-1968 | | Заглавие на английском языке | Low-power semiconductor devices measuring methods; thermal resistance | | Дата опубликования | 01.07.1968 | | МКС | 31.040.30 | | Вид стандарта | ST*N | | Обозначение заменяющего | DIN IEC 60747-7(1997.12) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 2 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 4 |  |
|