![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | DIN 41771-1-1970 | Заглавие на английском языке | Polycristalline semiconductor rectifier cells and stacks; measuring and test methods | Дата опубликования | 01.06.1970 | МКС | 29.200*31.080.10 | Вид стандарта | ST*N | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 41771-1(1962.09) | Язык оригинала | немецкий | Количество страниц оригинала | 2 | Перекрестные ссылки | DIN 41771-2*DIN 41771-3*VDE 0556 | Код цены | Preisgruppe 4 | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт DIN 41771-1-1970 входит в рубрики классификатора:
| | | |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|