| Обозначение | DIN 41771-1-1970 |
| Заглавие на английском языке | Polycristalline semiconductor rectifier cells and stacks; measuring and test methods |
| Дата опубликования | 01.06.1970 |
| МКС | 29.200*31.080.10 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 41771-1(1962.09) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 2 |
| Перекрестные ссылки | DIN 41771-2*DIN 41771-3*VDE 0556 |
| Код цены | Preisgruppe 4 |
 |