 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
|  | Библиография Обозначение | DIN 50441-5-1998 | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation | Дата опубликования | 01.05.1998 | МКС | 01.040.29*29.045 | Вид стандарта | ST*N | Обозначение заменяющего | DIN 50441-5-2001 | Язык оригинала | немецкий | Количество страниц оригинала | 10 | Перекрестные ссылки | ASTM F 534-91*ASTM F 657-92*ASTM F 1451-92*DIN 50441-1*DIN 50441-3*JEIDA 43-1987*SEMI M1-95 | Код цены | Preisgruppe 8 |  |
|  | Стандарт DIN 50441-5-1998 входит в рубрики классификатора:
| | | |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|