![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-10(2011) | на печать | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | IEC 62047-10(2011) | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials | МКС | 31.080.99 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяющего в части | IEC 62047-10(2011)/Cor.1(2012) | Дата опубликования | 26.07.2011 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 26 | ТК – разработчик стандарта | SC 47F | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | C | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт IEC 62047-10(2011) входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
6960,00
|
|
|