|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 | на печать | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации |
|
| | Библиография Обозначение | OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.01.2011 | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|