 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.01.2011 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|