| Обозначение | OVE/ONORM EN 62418:2011 01 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.01.2011 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |