![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 | на печать | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 | Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры | Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006) | Код МКС | 31.080.30 | Дата опубликования | 01.03.2007 | Язык оригинала | немецкий | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|