Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 | | Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры | | Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006) | | Код МКС | 31.080.30 | | Дата опубликования | 01.03.2007 | | Язык оригинала | немецкий |  |
|