 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50437-1979 |  на печать | | Материалы полупроводниковые неорганические. Определение толщины эпитаксиального слоя кремния методом инфракрасной интерферометрии |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50437-1979 | | Заглавие на русском языке | Материалы полупроводниковые неорганические. Определение толщины эпитаксиального слоя кремния методом инфракрасной интерферометрии | | Заглавие на английском языке | Testing of semi-conductive inorganic materials; measuring the thickness of silicon epitaxial layer thickness by infrared interference method | | Дата опубликования | 01.06.1979 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50437(1977-07) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 6 | | Перекрестные ссылки | DIN 50431(1972-11)*DIN 50432(1974-01) | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50437-1979 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|