| Обозначение | DIN 50437-1979 |
| Заглавие на русском языке | Материалы полупроводниковые неорганические. Определение толщины эпитаксиального слоя кремния методом инфракрасной интерферометрии |
| Заглавие на английском языке | Testing of semi-conductive inorganic materials; measuring the thickness of silicon epitaxial layer thickness by infrared interference method |
| Дата опубликования | 01.06.1979 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50437(1977-07) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 6 |
| Перекрестные ссылки | DIN 50431(1972-11)*DIN 50432(1974-01) |
| Код цены | Preisgruppe 5 |
 |